Tematyka badań i prac rozwojowych

 

ultraszybki detektor grafenowy - projekt GrafTech

rys. schemat urządzenia z grafenowym obszarem aktywnym

nanorurka węglowa jako detektor pojedynczych elektronów działający w temperaturze pokojowej

rys. schemat urządzenia FET na bazie nanorurki z dołączonym nanokryształem jak obiektem próbkowanym

nanoogniwa fotowoltaiczne na bazie półprzewodnikowych nanorurek węglowych

rys. zdjęcie urządzenia PV; obszar aktywny to warstwa nanorurek o pow. ~1um2 umieszczona między kontaktami z różnych metali

technologia CVD produkcji nanostruktur węglowych (nanourki węglowe, grafen) i materiałów 2D (MoS2)

rys. schemat procesu wytwarzania nanorurek

technologia nanofabrykacji

rys. zdjęcie AFM monowarsty grafenu podłączonego do kontatków

badania własności elektrycznych materiałów 2D i cienkich warstw

rys. zdjęcie czipu z kontaktami metalicznymi do cienkiej warstwy nanorurek

 

ekfoliacja materiałów 2D: grafen, MoS2,WS2, czarny forsfor, XS2, XSe2

rys. zdjęcie AFM mono- i kilku warstwy MoS2

 

technologia wytwarzania cienkich warstw (różna grubość, rozmiar i gęstość) na bazie materiałów nisko wymiarowych (nanorurki węglowe, grafen, GO, rGO, MoS2, kropki kwnatowe - Au, CdSe, TiO2)

rys. różnej grubości (50-200 nm) warstwy ciasno upakowanych jednościennych nanorurek węglowych naniesionych na szkło

 

technika przenoszenia grafenu (z foli miedzianej) na dowolną powierzchnię

rys. przykład monowarstwy grafenu (na górze) na podłożu stopu tytanu - zdjęcie z mikroskopu optycznego

 

 zaawansowane pomiary ramanowskie kryształów 2D oraz cienkich warstw - efekty temperaturowe

rys. zależności temoeraturowe pików ramanowskich, z lewej: warstwy nanorurek, z prawej: monowarstwy MoS2

 

 wyznaczenie przewodnictwa cieplnego materiałów 2D i cienkich warstw metodą opto-termiczną

rys. schemat ideowy eksperymentu dla monowarstw MoS2

 

cienkie warstwy nanorurek węglowych jako nieliniowe absorbery światła

rys. cienkie warstwy rurek półprzewonikowych na podłożu SiO2

 

 własności optoelektryczne cienkich warstw

rys. pomiar fotoprądu w cienkiej warstwie nanorurek półprzewodnikowych

 

 badanie własności optycznych (absorpcja, odbicie, transmisja) struktur nanorurkowych typu: las, warstwa

rys. zdjęcie SEM lasu nanorurek wielościennych o średnicach ~40 nm

badania własności elektrostatycznych (EFM. KPFM) materiałów 2D

rys. dystrybucja ładunów w płatku grafenowym uzyskana za pomocą badań EFM

 

Strona wykonana w ramach projektu: Manipulacja pojedynczymi elektronami w nanostrukturach
Projekt jest współfinansowany przez Unię Europejską
Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego